Dr. Hans te Nejenhuis做報告
8月17日上午，荷蘭PANAlytical公司多晶XRD應(yīng)用專家Dr. Hans te Nejenhuis在中科院大連化學(xué)物理研究所舉行了“多晶XRD分析最新技術(shù)及其在材料表征中的應(yīng)用”學(xué)術(shù)報告會。來自該所相關(guān)研究室的科研人員及研究生共計40余人參加了報告會。
Hans 博士重點介紹了Computed Tomography(CT) Analysis 、Pair Distribution Function (PDF) Analysis、Non-ambient Analysis、SAXS (小角散射技術(shù)) Analysis等最新XRD分析技術(shù)在催化劑等多種材料結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用。報告引起參會人員的很大興趣，隨后與會人員與Hans 博士就一些學(xué)術(shù)問題展開了熱烈討論。本次報告會的適時舉行，使大連化物所相關(guān)研究人員和學(xué)生受益匪淺。
