金屬晶粒細化至納米尺寸可以大幅度提高其強度和硬度，但是由于引入了大量的晶界，納米金屬材料的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性變低，晶粒長大傾向明顯。在一些納米金屬，如純銅中，納米晶粒甚至在室溫條件下即發(fā)生長大。這種固有的不穩(wěn)定性一方面給納米金屬材料的制備帶來困難，另一方面也限制了納米金屬的實際應(yīng)用。
最近，沈陽材料科學(xué)國家研究中心、“萬人計劃”科學(xué)家工作室盧柯研究員、李秀艷研究員及其指導(dǎo)的中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)材料學(xué)院研究生周鑫的研究發(fā)現(xiàn)，對于塑性變形制備的納米晶，其顯著不穩(wěn)定只在一定的晶粒尺寸范圍內(nèi)發(fā)生，之后隨著晶粒尺寸的降低，其穩(wěn)定性不降反升。對于純銅而言，尺寸為70nm的晶粒在413K退火30分鐘即發(fā)生顯著長大，遠低于粗晶銅的再結(jié)晶溫度。而低于70nm，隨著晶粒尺寸的進一步減小，納米晶的穩(wěn)定性反有所上升，尺寸為30nm的晶粒，其顯著長大溫度甚至高達600K以上。研究發(fā)現(xiàn)，低于70nm晶粒穩(wěn)定性升高來自于晶界能的自發(fā)降低。塑性變形過程中，70nm以下，晶界能自發(fā)由原來0.52J/m2降低至0.23-0.27J/m2，這一現(xiàn)象與在該尺寸下全位錯不能弓出，晶界通過釋放不全位錯容納變形有關(guān)。不全位錯的釋放改變了晶界的結(jié)構(gòu)，使之向低能狀態(tài)轉(zhuǎn)變。
該研究還發(fā)現(xiàn)，納米晶這一反常穩(wěn)定不只在純銅這樣的中低層錯能金屬中發(fā)生，在高層錯能純鎳中也同樣存在。尺寸為15nm左右的純鎳晶粒顯著長大溫度為1173 K (~0.68Tm)，遠高于粗晶鎳的再結(jié)晶溫度。
超高穩(wěn)定性納米晶的發(fā)現(xiàn)，不僅對于我們理解納米晶的變形機制以及晶界在納米尺寸下的行為非常重要，同時也展示了發(fā)展高溫使用的納米晶的可能性。
該研究得到科技部納米科技重點專項和國家自然基金資助。該成果于2018年5月4日Science雜志在線發(fā)表。
原文鏈接：http://science.sciencemag.org/content/360/6388/526.full
圖1 退火引起的梯度納米結(jié)構(gòu)純銅的組織變化。(A) 制備態(tài)（左）以及不同溫度退火30分鐘后的樣品橫截面的SEM照片，虛線處為樣品表面。（B）和（C）分別為距表面2mm處的樣品退火前和433K退火30分鐘后的TEM照片及電子衍射圖。（D）和（E）為梯度樣品433K退火和473K退火30分鐘后的最表面組織EBSD圖。（F）制備態(tài)、413K和453K退火30分鐘后樣品的平均晶粒尺寸及硬度隨深度分布。
圖2 晶粒粗化溫度以及晶界能隨晶粒尺寸變化關(guān)系圖。
ECAP: 等通道擠壓, DPD: 動態(tài)塑性變形，HPT: 高壓扭轉(zhuǎn), CR: 冷軋, IGC: 惰性氣體冷凝。
圖3（A）和（B）分別為梯度納米純Ni制備態(tài)及873K退火30分鐘后的SEM照片。虛線處為樣品表面。（C）、（D）、（E）分別為距離表面25mm處制備態(tài)和873K退火30分鐘后的TEM照片及兩者的晶粒尺寸分布圖。（F）晶粒粗化溫度隨晶粒尺寸變化圖。HPT: 高壓扭轉(zhuǎn), ECAP:等通道擠壓, SMGT:表面機械碾磨。
