工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)研究室副研究員王鍇接受獲獎(jiǎng)證書
8月16日至19日，2013年IEEE 國(guó)際電子測(cè)量與儀器學(xué)術(shù)會(huì)議（IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments, 以下簡(jiǎn)稱IEEE ICEMI）在哈爾濱召開。本次會(huì)議上，中國(guó)科學(xué)院沈陽(yáng)自動(dòng)化研究所工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)研究室副研究員王鍇和研究員徐皚冬等合作的論文Assessment of the Effect of Common Cause Failure and Diversity on Diagnostic Coverage of a Self-checking Pair脫穎而出，獲與會(huì)專家好評(píng)并最終獲得2013 IEEE ICEMI優(yōu)秀學(xué)術(shù)報(bào)告一等獎(jiǎng)。
該論文的核心思想是建立了一種新穎的安全儀表系統(tǒng)不完全覆蓋及共因失效混合模型，首次對(duì)冗余組件之間的差異、系統(tǒng)共因失效率以及診斷覆蓋率之間的數(shù)學(xué)關(guān)系展開研究。研究結(jié)果對(duì)于進(jìn)一步安全儀表系統(tǒng)可靠性評(píng)估結(jié)果的準(zhǔn)確性有重要意義。
IEEE ICEMI是電子測(cè)量與儀器領(lǐng)域內(nèi)最具影響力的國(guó)際會(huì)議，每?jī)赡昱e辦一次。本次會(huì)議由IEEE和中國(guó)電子學(xué)會(huì)共同主辦，協(xié)辦單位為美國(guó)CMG學(xué)會(huì)，承辦單位為哈爾濱工業(yè)大學(xué)等。會(huì)議主題包括：工業(yè)自動(dòng)化測(cè)量與控制、組件與系統(tǒng)可靠性、容錯(cuò)控制與故障診斷、設(shè)備健康管理、測(cè)試測(cè)量?jī)x器、測(cè)量軟件系統(tǒng)及應(yīng)用等。大會(huì)收到了來(lái)自中國(guó)、美國(guó)、加拿大、澳大利亞、英國(guó)、日本等多個(gè)國(guó)家和地區(qū)的636篇論文。經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的同行評(píng)議，最終僅有226篇論文被收錄至IEEE論文集，錄取率為35.5%。
近年來(lái)，沈陽(yáng)自動(dòng)化所積極鼓勵(lì)科研人員參加高水平國(guó)際學(xué)術(shù)會(huì)議，開拓學(xué)術(shù)視野和促進(jìn)學(xué)術(shù)交流，使科研人員學(xué)術(shù)能力和基礎(chǔ)研究水平不斷提高。近年來(lái)，沈陽(yáng)自動(dòng)化先后有多篇論文在學(xué)術(shù)會(huì)議上獲獎(jiǎng)，擴(kuò)大了沈陽(yáng)自動(dòng)化所研究成果的國(guó)際影響力。（工業(yè)控制網(wǎng)絡(luò)與系統(tǒng)研究室）
